第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
QT-8100 數(shù)?;旌螴C測(cè)試系統(tǒng)(Cable-Mount)2
適用于常規(guī)DC、AC參數(shù)測(cè)試和混合類及模擬類IC器件功能性測(cè)試
懸浮電源 |
多Site并行 |
多通道高精度 |
支持多種擴(kuò)展 |
型號(hào) | QT-8100 |
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) | 電源管理類;數(shù)碼消費(fèi)類;音頻類;汽車、節(jié)能環(huán)保電子類;特殊專用或定制類IC以及晶圓測(cè)試 |
主要特點(diǎn) |
? 懸浮電源,四象限 ? 混合信號(hào) IC 多 site 并行測(cè)試 ? 最高 100MHz 的數(shù)字信號(hào) ? 8M 向量深度 ? 20 個(gè)模擬槽位(Max 224 通道)/ 8 個(gè)數(shù)字槽位( Max 256 通道) ? 支持 RF、LCR、EAS、熱阻擴(kuò)展 ? 多通道高精度測(cè)量時(shí)間測(cè)量單元,可測(cè)量 10nS 以下時(shí)間參數(shù) ? 通信搭配 PEIC 卡,測(cè)試效率更高C |
Testing standards檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
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