第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
QT-8100 數(shù)?；旌螴C測(cè)試系統(tǒng)(Cable-Mount)2
適用于常規(guī)DC、AC參數(shù)測(cè)試和混合類及模擬類IC器件功能性測(cè)試
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懸浮電源 |
多Site并行 |
多通道高精度 |
支持多種擴(kuò)展 |
| 型號(hào) | QT-8100 |
| 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) | 電源管理類；數(shù)碼消費(fèi)類；音頻類；汽車、節(jié)能環(huán)保電子類；特殊專用或定制類IC以及晶圓測(cè)試 |
| 主要特點(diǎn) |
? 懸浮電源，四象限 ? 混合信號(hào) IC 多 site 并行測(cè)試 ? 最高 100MHz 的數(shù)字信號(hào) ? 8M 向量深度 ? 20 個(gè)模擬槽位（Max 224 通道）/ 8 個(gè)數(shù)字槽位（ Max 256 通道） ? 支持 RF、LCR、EAS、熱阻擴(kuò)展 ? 多通道高精度測(cè)量時(shí)間測(cè)量單元，可測(cè)量 10nS 以下時(shí)間參數(shù) ? 通信搭配 PEIC 卡，測(cè)試效率更高C |
Testing standards檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
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