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                  第三代
                  半導(dǎo)體測試家族
                  Third generation semiconductor testing family
                  分類
                   
                  Prober

                  適用於6、8″Si、SiC分立元件、功率元件、積體電路、射頻元件、光晶片等晶圓的自動(dòng)探針測試。 自動(dòng)上下片,Wafer ID讀取。 全自動(dòng)CCD視覺對(duì)針定位。 高精度定位平臺(tái)。 支援常高溫測試。 即時(shí)產(chǎn)生Mapping顯示Bin。 通用GPIB、TTL、R-232介面。



                  懸浮電源

                  多Site並行

                  多通道高精度

                  支援多種擴(kuò)展

                  型號(hào) Prober
                  產(chǎn)品介紹 適用於6、8″Si、SiC分立元件、功率元件、積體電路、射頻元件、光晶片等晶圓的自動(dòng)探針測試。 自動(dòng)上下片,Wafer ID讀取。
                  功能 ? 全自動(dòng)CCD視覺對(duì)針定位。
                  ? 高精度定位平臺(tái)。
                  ? 支援常高溫測試。
                  ? 即時(shí)產(chǎn)生Mapping顯示Bin。
                  ? 通用GPIB、TTL、R-232介面。


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