第三代
半導(dǎo)體測試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
KGD（Known Good Die）測試解決方案
支援高溫常溫測試：DC+SW+UIL+DC&RG； 支援測試針卡保護(hù)方案； 提供測試+分選整套方案；
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針卡保護(hù) |
兩顆並測 |
高溫常溫 |
數(shù)據(jù)合併 |
| 型號 | KGD測試解決方案 |
| 產(chǎn)品優(yōu)勢 |
? 低雜散解決方案； ? 獨(dú)家針卡保護(hù)專利技術(shù)； ? 過載欠壓保護(hù)； ? 一次測試兩顆晶片； ? 支援高溫加熱 |
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中國廣東省佛山市南海國家高新區(qū)新光源產(chǎn)業(yè)基地光明大道16號 |
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0757 83207313 (銷售) |
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