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                  第三代
                  半導(dǎo)體測(cè)試家族
                  Third generation semiconductor testing family
                  首頁(yè) 產(chǎn)品中心 電晶體測(cè)試 功率器件測(cè)試系統(tǒng)
                  分類
                   
                  QT-4100 綜合測(cè)試系統(tǒng)

                  適用於三極管、二極體、齊納二極體、MOS-FET(IGBT、SIC 氮化鎵)、J-FET、Current Sense FET、LDO(78XX、79XX、TL431、TL432常規(guī)測(cè)試)、光電耦合器等產(chǎn)品及晶 圓。 可擴(kuò)充:可控矽測(cè)試、SCANBOX、Dual Gate-FET、Q Plus 、三極管開(kāi)關(guān)時(shí)間(TST, TR ,TF, TON)、熱阻測(cè)試(DVDS, DVCE, DVBE,DVF)等



                  限壓限流

                  高精度Rdon測(cè)試

                  模組化功能

                  多站資料合併

                  型號(hào) QT-4100 綜合測(cè)試系統(tǒng)
                  產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) 測(cè)量防呆:電壓、電流測(cè)量自動(dòng)自檢,異常自動(dòng)報(bào)警停機(jī)測(cè)量防呆:電壓、電流測(cè)量自動(dòng)自我檢測(cè),異常自動(dòng)警報(bào)停機(jī)
                  LOW RDON
                  快速自我檢測(cè):無(wú)需外接負(fù)載,2分鐘完成自我檢測(cè)
                  第三人校準(zhǔn):採(cǎi)用Agilent 34401A進(jìn)行校準(zhǔn)
                  內(nèi)建示波器功能
                  支援多工位設(shè)備數(shù)據(jù)合併
                  主要特點(diǎn) ? 繼電器3ms;
                  ? 限壓限流保護(hù);
                  ? 支援?dāng)U展EAS,LCR,熱阻,SW,TRR,QG;
                  ? 填表式程式設(shè)計(jì);
                  ? 支援PAT功能;
                  ? 具備SECS/GEM標(biāo)準(zhǔn)介面


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