第三代
半導(dǎo)體測試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
QT-3107 LCR RG/CG 測試
自研LCR數(shù)位電橋,支援Mosfet RG/CG測試,也可以用於測試二極體的電容測試,解析度1fF
支援雙DIE |
精度高抗干擾 |
測試速度快 |
擴展2KV偏置 |
型號 | QT-3107 |
產(chǎn)品優(yōu)勢 |
采用數(shù)字電橋,抗干擾能力強,測試精度高; 測試時間比模擬電橋快2-3倍; 偏置電壓最高2KV; |
主要特點 |
測試分辨率1fF; 自帶±100V偏置源; 測試頻率:1MHz,擴展2MHz; 輸出幅度:0.025-2V; |
Testing standards檢測標準
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