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                  第三代
                  半導體測試家族
                  Third generation semiconductor testing family
                  首頁 產(chǎn)品中心 電晶體測試 功率器件測試系統(tǒng)
                  分類
                   
                  QT-3104 QG 閘極電荷測試

                  QT-3104 QG滿足SiC裝置微小QG值測試



                  支援雙DIE

                  過載欠壓保護

                  高精度測試

                  支援擴充

                  型號 QT-3104 QG
                  產(chǎn)品優(yōu)勢 滿足SiC裝置微小QG值測試
                  主要特點 ? 測試能力:200A/150V 150A/1000V




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