第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
QT-3102 熱阻測(cè)試儀
QT-3102-XX測(cè)試元件類型:三極管、場(chǎng)效應(yīng)管、IGBT、二極體、可選SCR
支援雙DIE |
1000W電源 |
過(guò)載欠壓保護(hù) |
擴(kuò)充SCR |
型號(hào) | QT-3102 |
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) |
QT-3102-XX測(cè)試元件類型:三極體、場(chǎng)效應(yīng)管、IGBT、二極體、可選SCR R26:可以內(nèi)建在QT-4100的DC測(cè)試項(xiàng)目?jī)?nèi)實(shí)現(xiàn)高功率內(nèi)建熱阻測(cè)試 R26:透過(guò)scanbox可以實(shí)現(xiàn)Dual Die測(cè)試 |
主要特點(diǎn) |
? 最大電流、最高電壓視機(jī)型而定,最大電流分別有20A,50A ? 最大電壓分別有100V,200V |
Testing standards檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
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