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                  第三代
                  半導(dǎo)體測(cè)試家族
                  Third generation semiconductor testing family
                  首頁(yè) 產(chǎn)品中心 電晶體測(cè)試 功率器件測(cè)試系統(tǒng)
                  分類
                   
                  QT-3102 熱阻測(cè)試儀

                  QT-3102-XX測(cè)試元件類型:三極管、場(chǎng)效應(yīng)管、IGBT、二極體、可選SCR



                  支援雙DIE

                  1000W電源

                  過(guò)載欠壓保護(hù)

                  擴(kuò)充SCR

                  型號(hào) QT-3102
                  產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) QT-3102-XX測(cè)試元件類型:三極體、場(chǎng)效應(yīng)管、IGBT、二極體、可選SCR
                  R26:可以內(nèi)建在QT-4100的DC測(cè)試項(xiàng)目?jī)?nèi)實(shí)現(xiàn)高功率內(nèi)建熱阻測(cè)試
                  R26:透過(guò)scanbox可以實(shí)現(xiàn)Dual Die測(cè)試
                  主要特點(diǎn) ? 最大電流、最高電壓視機(jī)型而定,最大電流分別有20A,50A
                  ? 最大電壓分別有100V,200V




                  Testing standards檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
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