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                  第三代
                  半導(dǎo)體測試家族
                  Third generation semiconductor testing family
                  首頁 產(chǎn)品中心 電晶體測試 功率器件測試系統(tǒng)
                  分類
                   
                  QT-3101 UIL 雪崩測試

                  QT-3101 UIL 雪崩測試適用於測試MOSFET、IGBT、二極體的雪崩參數(shù)



                  支援雙DIE

                  快速充電

                  失效波形保存

                  鉗壓功能

                  型號 QT-3101 UIL
                  產(chǎn)品優(yōu)勢 支援VDD ON(E=1/2L*I*I*BVDSS/(BVDSS-VDD))或VDD OFF(E=1/2*L*I*I)測試
                  內(nèi)建示波器
                  極限能量掃描測試
                  可設(shè)定單脈衝、多重脈衝或雙MOSFET測試
                  可與QT-4100B共用一臺(tái)電腦,實(shí)現(xiàn)測試程式與資料統(tǒng)一管理
                  主要特點(diǎn) ? 輸出測量能力:最大測量BVdss:±3000V最大輸出ID:±150V 、±200A
                  ? 可編輯VG MAX:±30V脈寬調(diào)節(jié)(解析度:1us)
                  ? 可程式電感箱負(fù)載10μH-159.9mH步進(jìn)10μH
                  ? 可程式分選機(jī)介面訊號24個(gè)

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