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                  第三代
                  半導體測試家族
                  Third generation semiconductor testing family
                  首頁 產(chǎn)品中心 電晶體測試 IC測試系統(tǒng)
                  分類
                   
                  QT-8100HP 模擬IC測試系統(tǒng) (Cable-Mount)

                  常規(guī) DC、AC 參數(shù)測試、分立元件 Wafer 多 site 和 IC 功能性測試 主要測試:電源管理類,馬達驅(qū)動類,音訊放大器、高速光耦、運算放大器、小功率分立裝置等



                  懸浮電源

                  多Site並行

                  多通道高精度

                  支援多種擴展

                  型號 QT-8100HP
                  產(chǎn)品優(yōu)勢 ? 20 個類比插槽(Max 216通道)/ 2 個數(shù)位插槽( Max 32通道)
                  ? 懸浮V/I源,四象限
                  ? 由測試盒引出全資源,8site並測
                  ? 數(shù)位速率100Mhz,向量深度8M
                  ? 真並測,多路1000V/20A高壓大電流
                  ? 18 bit 高精密採樣
                  ? 多通道高精度時間測量單元,支援ns等級時間測量
                  ? PCIE 卡測試效率更高




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