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                  第三代
                  半導體測試家族
                  Third generation semiconductor testing family
                  首頁 產(chǎn)品中心 電晶體測試 IC測試系統(tǒng)
                  分類
                   
                  QT-8100 數(shù)?;旌螴C測試系統(tǒng) (Cable-Mount)

                  適用於常規(guī)DC、AC參數(shù)測試及混合類及模擬類IC元件功能性測試。 主要測試:電源管理類,數(shù)位消費類,馬達驅(qū)動類,音頻放大器、運算等。



                  懸浮電源

                  多Site並行

                  多通道高精度

                  支援多種擴展

                  型號 QT-8100
                  產(chǎn)品優(yōu)勢

                  數(shù)?;旌螴C測試系統(tǒng)適用於常規(guī)DC、AC參數(shù)測試及混合類及模擬類IC元件功能性測試。 主要測試:電源管理類,數(shù)位消費類,馬達驅(qū)動類,音頻放大器、運算等

                  主要特點 ? 懸浮V/I源,四象限
                  ? 由測試盒引出全資源,8site並測
                  ? 數(shù)位速率100Mhz,向量深度8M
                  ? 真並測,多路1000V/20A高壓大電流
                  ? 18 bit 高精密採樣
                  ? 20 個類比插槽(Max 216通道)/ 8 個數(shù)位插槽( Max 128通道)
                  ? 多通道高精度時間測量單元,支援ns等級時間測量
                  ? 支援RF模組擴充
                  ? PCIE 卡,測試效率更高




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