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                  新聞動態(tài)
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                  首頁 新聞動態(tài) 聯(lián)動科技成功參展SEMICON CHINA 2018
                  聯(lián)動科技成功參展SEMICON CHINA 2018
                  032018.17
                  writer:聯(lián)動科技  pubdate:2018-03-17 00:00:00   visits:1361

                  2018年3月14日至16日,Semicon China 2018在上海新國際展覽中心順利舉行。

                  本公司展示了目前在半導(dǎo)體IC積體電路測試系統(tǒng)、Discrete測試系統(tǒng)和雷射打標(biāo)系統(tǒng)的最新產(chǎn)品。 包括:國內(nèi)自主研發(fā)首臺超大規(guī)模積體電路測試系統(tǒng)QT-9000,數(shù)位類比混合訊號IC測試系統(tǒng)QT-8200/8100,分離式元件測試系統(tǒng)QT-6000和QT-4100測試平臺,全自動IC列印偵測系統(tǒng) QH-APV5090等先進設(shè)備。




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